高斯計(jì)測(cè)量磁體逐步被磁通計(jì)替代？盡管高斯計(jì)測(cè)量簡(jiǎn)單直接、讀數(shù)調(diào)零快捷方便，由于高斯計(jì)本身設(shè)計(jì)的缺陷，測(cè)試是點(diǎn)磁場(chǎng)，加上高斯計(jì)探頭厚薄、封裝一致性問(wèn)題，同一塊磁體，測(cè)量同一點(diǎn)，不同操作人員測(cè)出不同的磁場(chǎng)值，因此、給測(cè)試帶來(lái)了一定的煩惱！如果采用磁通計(jì)測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)，如果是同一個(gè)線圈肯定數(shù)據(jù)符合，不會(huì)產(chǎn)生較大的誤差，可行度自然很多高，磁通計(jì)的缺點(diǎn)就是磁通計(jì)的漂移問(wèn)題，每次需要調(diào)漂清零。