高斯計(jì)測(cè)量薄片磁體的剩磁的原理是測(cè)量薄片中心點(diǎn)的表磁，如果薄片退磁后，就很難測(cè)試出來(lái)，因?yàn)楸∑浯藕蟮谋泶疟緛?lái)就不高，在這個(gè)時(shí)候，我們工程師建議采用磁通計(jì)測(cè)量磁通值，檢測(cè)薄片的剩磁比較好。